J750係統在其零占地麵積的一個測試頭上可提供高達512個數字通道，J750具有強大的並行測試能力，並行測試效率高達95%。該係統還可以針對低端和中檔半導體市場不同的測試需求提供多種測試選件，包括轉換器測試選件，存儲器測試選件，混合信號測試選件，掃描測試選件，冗餘分析和模擬參數測試選件。